CTS-9006PLUS操作手冊(cè)|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司全國(guó)*CTS-9006PLUS數(shù)字超聲波探傷儀 啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司提供CTS-9006PLUS銷售、CTS-9006PLUS維修、CTS-9006PLUS計(jì)量證書、CTS-9006PLUS校準(zhǔn)證書、CTS-9006PLUS探頭、CTS-9006PLUS連接線、CTS-9006PLUS電池、CTS-9006PLUS儀器包等等 
輕便、易用、可靠
——SIUI新一代大功率探傷儀 方波大功率發(fā)射 穿透力強(qiáng) 寬頻帶高分辨率 檢出率高 性能強(qiáng)勁：高壓方波發(fā)射、穿透力強(qiáng)，滿足大型鑄、鍛件探傷的需求 小巧輕便：整機(jī)（含電池）重量約1.25Kg，高空、野外作業(yè)輕松自如 操作簡(jiǎn)易：按鍵少，定義明確，實(shí)現(xiàn)單手握持操作 防塵防水：按IP65防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)，適應(yīng)復(fù)雜的工業(yè)探傷環(huán)境 超低功耗：標(biāo)配鋰聚合物電池，連續(xù)工作時(shí)間長(zhǎng)達(dá)7小時(shí) 發(fā)射脈沖電壓50～500V可調(diào)，發(fā)射脈沖為尖脈沖或方波，方波寬度51～850ns可調(diào) 工作頻率范圍0.5 ~ 10 MHz，靈敏度余量≥70 dB，分別突顯寬頻帶和高靈敏度的優(yōu)點(diǎn) 20 ~ 2000Hz的脈沖重復(fù)頻率，步進(jìn)20Hz，避免探傷過(guò)程中出現(xiàn)混響信號(hào) 采樣速率高達(dá)240MHz，測(cè)量分辨率0.1mm 外部U盤無(wú)限或內(nèi)部3分鐘動(dòng)態(tài)記錄功能，實(shí)現(xiàn)掃查過(guò)程全記錄 RF（射頻）回波功能，對(duì)于薄壁材料測(cè)量或?qū)W術(shù)研究和定性分析有很大幫助 自動(dòng)增益控制AGC，配合峰值回波、圖像凍結(jié)功能，快速確定缺陷高波，探傷更高效 AVG曲線，使用已知平底孔或大平底回波，制作出3條不同當(dāng)量的曲線 DAC曲線，配合回波比較功能，使不同距離不同波幅的回波定量更簡(jiǎn)便 多種不同的顯示顏色搭配方案，滿足不同使用場(chǎng)景和習(xí)慣的需求 存儲(chǔ)300組曲線及波形，滿足不同探傷工藝應(yīng)用及探傷數(shù)據(jù)存檔的需求
數(shù)據(jù)編輯和管理
探傷回波、曲線、參數(shù)等，或由USB接口經(jīng)U盤將數(shù)據(jù)導(dǎo)入計(jì)算機(jī)，實(shí)現(xiàn)探傷報(bào)告的編輯和數(shù)據(jù)的管理 
DAC 曲線
DAC 曲線功能令缺陷評(píng)價(jià)更加輕松、方便。 
AVG 曲線
通過(guò)取已知大平底或平底孔回波為參考，自動(dòng)生成AVG曲線。 
大鍛件探傷
大探測(cè)范圍，高靈敏度余量，滿足大鍛件或粗晶體材料的檢測(cè)。 
（圖示為400mmΦ2平底孔鍛件試塊的回波） 焊縫檢測(cè)模擬圖
直接指出缺陷所在區(qū)域，位置一目了然 
（圖示為厚度10mm平板焊縫缺陷位置） 項(xiàng) 目 | 單 位 | 技 術(shù) 數(shù) 據(jù) | 衰減器誤差 | dB | 每12dB ± 1dB | 垂直線性誤差 | % | ≤3 | 水平線性誤差 | % | ≤0.5 | 動(dòng)態(tài)范圍 | dB | ≥30 | 探傷靈敏度余量 | dB | ≥70（2.5Z20N探頭） | 遠(yuǎn)區(qū)分辨力 | dB | ≥26 | 電噪聲電平 | % | ≤10（1 ~ 4MHz） | 等效輸入噪聲 | V/√Hz | ＜80×10-9 | 工作頻率范圍 | MHz | 0.5 ~ 10，7檔可調(diào) | 脈沖重復(fù)頻率 | Hz | 20 ~ 2000，步進(jìn)20Hz | 脈沖電壓 | V | 50～500可調(diào) | 脈沖寬度 | ns | 尖脈沖或方波，方波寬度51～850ns可調(diào) | 薄板分辨力 | mm | ≤3（5C10N探頭） | 探測(cè)范圍 | mm | 0 ~ 13000（鋼縱波） | 脈沖移位 | mm | -10 ~ 1000（鋼縱波） | 探頭零點(diǎn) | μs | 0 ~ 200 | 材料聲速 | m/s | 300 ~ 15000 | 阻尼 | Ω | 25、75 、200、1000四檔可調(diào) | 抑制 | % | 0 ~ 80 | 檢波方式 |
| 負(fù)向檢波/正向檢波/雙向檢波/濾波/RF | 增益調(diào)節(jié) | dB | 0 ~ 110：分0.5/2/6/12步進(jìn)調(diào)節(jié) | DAC功能 |
| 用于制作、設(shè)置和應(yīng)用DAC曲線 | AVG功能 |
| 用于制作、設(shè)置和應(yīng)用AVG曲線 | 截圖功能 |
| 將儀器屏幕存為圖片并輸出到U盤中 | 轉(zhuǎn)存功能 |
| 通過(guò)USB接口把儀器內(nèi)部數(shù)據(jù)集轉(zhuǎn)存到U盤中 | 閘門 |
| 閘門方式：off/進(jìn)波/失波/測(cè)量 | 存儲(chǔ) |
| 500組數(shù)據(jù)集，包括儀器設(shè)置、探傷狀態(tài)和回波圖形等 支持從U盤導(dǎo)入探傷數(shù)據(jù) | 自動(dòng)增益功能 |
| 使閘門內(nèi)回波幅度自動(dòng)調(diào)節(jié)到幅度 幅度設(shè)置：40%/50%/60%/70%/80%/90%/100% | 峰值記憶功能 |
| 顯示波形包絡(luò) | 峰值回波功能 |
| 記錄包含回波的回波波形 | 凍結(jié)功能 |
| 凍結(jié)屏幕波形 | 自動(dòng)校正功能 |
| 用于校正材料聲速與探頭零點(diǎn)，校正模式：聲速+零點(diǎn)/聲速/零點(diǎn) | 角度測(cè)量功能 |
| 用于測(cè)量探頭角度 | 動(dòng)態(tài)回放 |
| 內(nèi)部/U盤，內(nèi)部約3分鐘的回波記錄功能，U盤可無(wú)限記錄 | 語(yǔ)言 |
| 中/英/日/西班牙/法/德/俄 | 顯示屏 |
| 高亮度5.7″彩色TFT液晶顯示屏，640× 480像素 | 工作時(shí)間 | h | ≥7 | 工作電壓 | V | 9 ~ 12（外部直流電源），6.4 ~ 8.4（電池） | 工作溫度 | ℃ | -10 ~ 40 | 重量 | Kg | 約1.25（含電池） | 尺寸 | mm | 152 × 240 × 52（寬×高×深） |
2.5Z6×6K1/K1.5/K2/K2.5/K3|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司全國(guó)提供 2.5Z6×6K1/K1.5/K2/K2.5/K3小徑管斜探頭|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司全國(guó)提供 小徑管斜探頭2Z12FG-HX|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司全國(guó)提供
SIUI/2.5Z6×6K1/K1.5/K2/K2.5/K3小徑管斜探頭|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司全國(guó)提供
SIUI研究所2.5Z6×6K1/K1.5/2/K2.5/K3小徑管斜探頭|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司全國(guó)提供
測(cè)厚儀分割式直探頭
5M10FG-HC
2Z12FG-H/HX
5Z6FG-H/HX
5Z8FG-H/HX
5Z10FG-HX
5Z10FG-HC
5Z10FG-GH
7.5Z6FG-H
2Z12FG-HL00
5Z10FG-HJL00
5Z10FG-GHL00
7.5Z6FG-HL00
5Z20FG5Z；5Z20FG10Z；5Z20FG15Z；5Z20FG20Z；5Z20FG25Z；5Z20FG30Z 5Z14FG5Z；5Z14FG10Z；5Z14FG15Z；5Z14FG20Z；5Z14FG25Z；5Z14FG30Z 2.5Z20FG5Z；2.5Z20FG10Z；2.5Z20FG15Z；2.5Z20FG20Z；2.5Z20FG25Z；2.5Z20FG30Z
2.5Z14FG5Z；2.5Z14FG10Z；2.5Z14FG15Z；2.5Z14FG20Z；2.5Z14FG25Z；2.5Z14FG30Z
K0.5S專用探頭|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司全國(guó)提供
K0.5S美國(guó)GE粗晶探頭|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司全國(guó)提供 K0.5S粗晶探頭|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司全國(guó)提供 K0.5S探頭|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司全國(guó)提供 德國(guó)KK/K0.5S單晶直探頭|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司全國(guó)提供 K0.5S單晶探頭|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司全國(guó)提供 貝克休斯K0.5S單晶縱波探頭|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司全國(guó)提供 貝克休斯K0.5S單晶縱波直探頭|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司全國(guó)提供
      
美國(guó)GE粗晶探頭 縱波探頭能適用于檢測(cè)粗晶材料、原始的鑄造材料，奧氏體和奧氏體焊縫等。
對(duì)于普通探頭，由于粗晶粒結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生的噪聲幅度與小缺陷的回波幅度基本一致，這樣容易造成缺陷漏檢。所以，檢測(cè)粗晶材料時(shí)要選用特殊探頭。有些探頭可以檢測(cè)部分奧氏體焊縫，并得到一些滿意的結(jié)果，這主要取決于被檢測(cè)材料的聲學(xué)特性。我們一直致力于解決這個(gè)問(wèn)題，我們選擇不同焦點(diǎn)的單晶探頭和TR探頭進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，得到檢測(cè)粗晶材料的*探頭參數(shù)。
與此同時(shí)，我們得到了奧氏體材料制造商的大力支持。根據(jù)我們的經(jīng)驗(yàn)和實(shí)驗(yàn)，我們針對(duì)各種粗晶粒材料設(shè)計(jì)了相應(yīng)的探頭，這些探頭都取得了*的效果。此外，這些測(cè)試結(jié)果還獲得了*信噪比，并且所有的粗晶探頭都通過(guò)縱波探傷。
美國(guó)GE粗晶探頭 縱波探頭能適用于檢測(cè)粗晶材料、原始的鑄造材料，奧氏體和奧氏體焊縫等。 對(duì)于普通探頭，由于粗晶粒結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生的噪聲幅度與小缺陷的回波幅度基本一致，這樣容易造成缺陷漏檢。所以，檢測(cè)粗晶材料時(shí)要選用特殊探頭。有些探頭可以檢測(cè)部分奧氏體焊縫，并得到一些滿意的結(jié)果，這主要取決于被檢測(cè)材料的聲學(xué)特性。我們一直致力于解決這個(gè)問(wèn)題，我們選擇不同焦點(diǎn)的單晶探頭和TR探頭進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，得到檢測(cè)粗晶材料的*探頭參數(shù)。 與此同時(shí)，我們得到了奧氏體材料制造商的大力支持。根據(jù)我們的經(jīng)驗(yàn)和實(shí)驗(yàn)，我們針對(duì)各種粗晶粒材料設(shè)計(jì)了相應(yīng)的探頭，這些探頭都取得了*的效果。此外，這些測(cè)試結(jié)果還獲得了*信噪比，并且所有的粗晶探頭都通過(guò)縱波探傷。 |
| 具有可更換保護(hù)膜的直探頭 | 頻率（MHZ） | 接觸面（mm） | 尺寸Φ(mm) |
|
| K0.5S | 0.5 | 40 | 34 | 高阻尼 |
|
| K1S | 1 | 40 | 34 | 高靈敏度 |
| K1SM | 1 | 33 | 28 | 非常好的信噪比 |
| B0.5SL | 0.5 | 40 | 34 | 非常好的靈敏度 |
| B1SL | 1 | 40 | 34 | 高阻尼，高信噪比 |
| K1SC | 1 | 30 | 24 | 復(fù)合材料壓電晶片 |
| K2SC | 2 | 30 | 24 | *的靈敏度和信噪比 |
| 縱波斜探頭—單晶系列，復(fù)合材料壓電晶片 | 頻率（MHZ） | 接觸面（mm） | 角度（ °） | 深度范圍 | 要求的探頭線 |
| WRY45 WRY60 WRY70 WSY45-2 WSY60-2 WSY70-2 WSY45-4 WSY60-4 WSY70-4 | 2 2 2 2 2 2 4 4 4 | 48 x 25 48 x 25 48 x 25 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 | 45 60 70 45 60 70 45 60 70 | 5 - 100 5 - 80 5 - 55 6 - 25 4 - 20 3 - 15 3 - 30 3 - 20 2 - 15 | }MPKL 2 }MPKL 2 }MPKL 2 |
| 雙晶系列縱波斜探頭—復(fù)合材料壓電晶片 | 頻率（MHZ） | 接觸面（mm） | 角度（ °） | 深度范圍 |
| VRY 45 VRY 60 VRY 70 VSY 45 VSY 60 VSY 70 | 1,8 1,8 1,8 4 44 | 53 x 29 53 x 29 53 x 29 30 x 15 30 x 15 30 x 15 | 45 60 70 45 60 70 | 15 - 70 10 - 60 5 - 45 2 - 30 1.5 - 20 1.5 - 20 | }SEKL 2 }SEKN 2 |
|
        
SIUI向用戶提供超過(guò)500種以上的工業(yè)超聲探頭產(chǎn)品，包括直探頭、斜探頭、窄脈沖探頭、分割式探頭、水浸探頭、聚焦探頭、可變角度探頭等多個(gè)系列，滿足各種探傷應(yīng)用。除常規(guī)型號(hào)探頭外，各系列均可按客戶特殊需求進(jìn)行定制。
2.5Z14FG*Z（*可取5至30）2.5Z14FG5Z；2.5Z14FG10Z；2.5Z14FG15Z；2.5Z14FG20Z；2.5Z14FG25Z；2.5Z14FG30Z
2.5Z20FG*Z（*可取5至30）2.5Z20FG5Z；2.5Z20FG10Z；2.5Z20FG15Z；2.5Z20FG20Z；2.5Z20FG25Z；2.5Z20FG30Z
5Z14FG*Z（*可取5至30）5Z14FG5Z；5Z14FG10Z；5Z14FG15Z；5Z14FG20Z；5Z14FG25Z；5Z14FG30Z
5Z20FG*Z（*可取5至30）5Z20FG5Z；5Z20FG10Z；5Z20FG15Z；5Z20FG20Z；5Z20FG25Z；5Z20FG30Z
工業(yè)超聲探頭/超聲探傷儀配套探頭 連接線 焊縫用斜探頭
超聲波斜探頭：主要用于橫波探傷用來(lái)檢測(cè)焊縫氣孔、裂紋、浹渣等缺陷。
縱波直探頭
1Z10N/1Z20N/1Z30N縱波直探頭
縱波直探頭
1.25Z14N/1.25Z20N縱波直探頭
縱波直探頭
2Z10N/2Z14N/2Z20N縱波直探頭
縱波直探頭
2.5Z6N/2.5Z10N縱波直探頭
縱波直探頭
2.5Z14N/2.5Z20N縱波直探頭
縱波直探頭
4Z10N/4Z14N/4Z20N縱波直探頭
縱波直探頭
5Z10N/5Z14N/5Z20N縱波直探頭
縱波直探頭
10Z6N/10Z10N縱波直探頭
接觸式探頭頻率
MHz | 標(biāo)稱
晶片
尺寸（毫米） | 探頭工件編號(hào) | 近場(chǎng)
（毫米） | 典型
帶寬（%） | 連接器 | 連接器
位置 | 略圖# | | 2 | 10 | CN2R-10 | 7.2 | 85 | LEMO 00 | 直角型 | 3 | | 24 | CN2R-24 | 45 | 85 | LEMO 00 | 直角型 | 4 | | 4 | 10 | CN4R-10 | 15.6 | 85 | LEMO 00 | 直角型 | 3 | | 24 | CN4R-24 | 91 | 85 | LEMO 00 | 直角型 | 4 | | 5 | 5 | CN5R-5 | 5 | 60 | Microdot | 直角型 | 5 | | 10 | 5 | CN10R-5 | 10 | 60 | Microdot | 直角型 | 5
|
|
CN2R-24 |
接觸式探頭目前不提供DGS圖形。 保護(hù)面探頭
PF2R-10（左圖）；PF4R-24（右圖） | 頻率 MHz | 標(biāo)稱晶片尺寸（毫米） | 探頭工件編號(hào) | 近場(chǎng)（毫米） | 典型帶寬 (%) | 連接器 | 連接器
位置 | 略圖# | | 1 | 24 | PF1R-24 | 23 | 45 | LEMO 1 | 直角型 | 12 | | 24 | PF1S-24 | 23 | 45 | LEMO 1 | 平直型 | 11 | | 2 | 10 | PF2R-10 | 7.2 | 45 | LEMO 00 | 直角型 | 13 | | 24 | PF2R-24 | 45 | 45 | LEMO 1 | 直角型 | 12 | | 24 | PF2S-24 | 45 | 45 | LEMO 1 | 平直型 | 11 | | 4 | 10 | PF4R-10 | 15.6 | 35 | LEMO 00 | 直角型 | 13 | | 24 | PF4R-24 | 91 | 30 | LEMO 1 | 直角型 | 12 | | 24 | PF4S-24 | 91 | 30 | LEMO 1 | 平直型 | 11 |
所有保護(hù)面探頭都提供DGS圖形。 保護(hù)膜配件 PM-24-12（左圖）；MRN-24（右圖）
| 說(shuō)明 | 所適用的標(biāo)稱晶片尺寸 | 工件編號(hào) |
| （毫米） |
| | 一套含12個(gè)膜 | 10 | PM-10-12 | | 一套含12個(gè)膜 | 24 | PM-24-12 | | 固定環(huán) | 10 | MRN-10 | | 固定環(huán) | 24 | MRN-24 |
雙晶探頭頻率
MHz | 標(biāo)稱晶片尺寸
（毫米） | 探頭工件編號(hào) | 焦點(diǎn)
鋼中
（毫米） | 典型帶寬
(%) | 連接器 | 連接器
位置 | 略圖# | | 2 | 7 × 18 | DL2R-7X18 | 15 | 50 | LEMO 00（2） | 直角型 | 2 | | 7 × 18 | DL2R-7X18-0 | 30 | 50 | LEMO 00（2） | 直角型 | 2 | | 11 | DL2R-11 | 8 | 48 | LEMO 00（2） | 直角型 | 1 | | 4 | 3.5 × 10 | DL4R-3.5X10 | 10 | 45 | LEMO 00（2） | 直角型 | 1 | | 6 × 20 | DL4R-6X20 | 12 | 48 | LEMO 00（2） | 直角型 | 2 | | 6 × 20 | DL4R-6X20-0 | 25 | 48 | LEMO 00（2） | 直角型 | 2
|
|
DL2R-7X18（左圖）；DL4R-3.5X10（右圖） |
所有雙晶探頭都提供DGS圖形。 1 
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啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司是一家*從事無(wú)損檢測(cè)設(shè)備代理的公司，主營(yíng)聲波檢測(cè)設(shè)備及探頭、聲波相控陣、聲TOFD探傷儀、聲波相控陣探頭以及數(shù)字成像平板等*設(shè)備，有奧林巴斯NDT、美國(guó)磁通、美國(guó)sherwen、汕、新美達(dá)、美國(guó)GE等多家產(chǎn)品。長(zhǎng)期以來(lái)，公司堅(jiān)持走科技創(chuàng)新之路，不斷拓展產(chǎn)品線及產(chǎn)品技術(shù)，加大應(yīng)用技術(shù)人員投入。 公司提供的無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備包括工業(yè)X光機(jī)、工業(yè)CT、CR、DR、工業(yè)洗片機(jī)、聲波探傷儀、聲波相控陣、聲波測(cè)厚儀、聲波探頭、渦流探頭、渦流陣列探傷儀、管材的無(wú)損檢測(cè)解決方案、渦流陣列探傷儀、聲導(dǎo)波、聲TOFD探傷儀、渦流陣列、磁粉探傷機(jī)、著色滲透劑、熒光滲透線、工業(yè)內(nèi)窺鏡、大型復(fù)合材料聲波自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng)、大型聲波板材檢測(cè)系統(tǒng)、大型聲波管材檢測(cè)系統(tǒng)、大型壓力容器聲波檢測(cè)系統(tǒng)、汽車點(diǎn)焊聲波成像分析儀和其它實(shí)驗(yàn)室儀器。 聲波探傷儀、相控陣探傷儀、磁粉探傷儀、膠片、探傷劑、耦合劑、試塊、洗片槽、膠片機(jī)、黑光燈、紫外線燈、相控陣探頭、單晶直探頭、雙晶直探頭、單晶斜探頭、雙晶斜探頭、水浸探頭、保護(hù)膜探頭、表面波探頭、絕緣子聲波探頭、爬坡探頭、TOFD探頭、楔塊探頭、楔塊、導(dǎo)波探頭、磁性探頭、單晶連接線、雙晶連接線、反差增強(qiáng)劑、密度計(jì)、觀片燈、洗片夾、拉環(huán)磁鋼、鉛字、射線機(jī)、射線燈、個(gè)人劑量報(bào)警儀、輻射儀、環(huán)境輻射儀、黑油磁懸液、黑水磁懸液、紅油磁懸液、紅水磁懸液、紅磁膏、黑磁膏、紅磁粉、黑磁粉、噴壺、提升力試塊、梨形測(cè)定管、直型測(cè)定管、消泡劑、防銹劑、分散劑、磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)、白光照度計(jì)、紫外照度計(jì)、暗室紅燈、三色燈、顯影粉、定影粉、顯影液、定影液、暗袋、增感屏、防護(hù)背心、鉛衣、像質(zhì)計(jì)、無(wú)損檢測(cè)配件、 長(zhǎng)期以來(lái)，依托高素質(zhì)的技術(shù)人員和銷售隊(duì)伍，本著誠(chéng)信守法，客戶*的經(jīng)營(yíng)原則，以良好的信譽(yù)、豐富的經(jīng)驗(yàn)、周到的服務(wù)，為客戶提供了的檢測(cè)設(shè)備及技術(shù)解決方案，贏得了國(guó)內(nèi)外廣大用戶的信賴和好評(píng)。我們提供的設(shè)備、系統(tǒng)及方案應(yīng)用于的各種*工業(yè)領(lǐng)域，特別應(yīng)用于航空航天、汽車制造、石油化工、船舶制造、冶金、鐵路、核工業(yè)及電力、特檢、高校及研究機(jī)構(gòu)等。 良好信譽(yù) – 啟航檢測(cè)科技作為無(wú)損檢測(cè)行業(yè)的，依托高素質(zhì)團(tuán)隊(duì)及誠(chéng)信周到的服務(wù)，得到了客戶的一致贊同。 豐富經(jīng)驗(yàn) – 啟航檢測(cè)科技的銷售人員及技術(shù)人員大部分都擁有本科及以上學(xué)歷，在無(wú)損檢測(cè)行業(yè)有著多年的經(jīng)驗(yàn)及*知識(shí)。 高效服務(wù) – 啟航檢測(cè)科技部位于上海，主要城市設(shè)立分支機(jī)構(gòu)。任何時(shí)間和地點(diǎn)，隨時(shí)準(zhǔn)備好為您提供及時(shí)可靠的服務(wù)。 解決方案 – 啟航檢測(cè)科技依托高素質(zhì)的技術(shù)團(tuán)及*的本地化服務(wù)，我們隨時(shí)為您提供及時(shí)全面的無(wú)損檢測(cè)解決方案。
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